Įvadas į elektronų mikroskopiją

Didžiausias elektroninių mikroskopų padidinimas dabar viršija 15 milijonų kartų,
1931 metais vokiečiai M. Nohr ir E. Ruska modifikavo aukštos įtampos osciloskopą su šalto katodo išlydžio elektronų šaltiniu ir trimis elektroniniais lęšiais ir gavo daugiau nei dešimt kartų padidintus vaizdus. Jie išrado perdavimo elektronų mikroskopiją, kuri patvirtino elektroninės mikroskopijos galimybę sustiprinti vaizdą. 1932 m., patobulinus Ruską, elektroninių mikroskopų skiriamoji geba siekė 50 nanometrų, apie dešimt kartų daugiau nei tuo metu optinių mikroskopų, peržengus optinių mikroskopų skiriamosios gebos ribą. Dėl to elektroniniai mikroskopai pradėjo sulaukti dėmesio.
194 m Kinijoje 1958 metais buvo sėkmingai sukurtas transmisinis elektroninis mikroskopas su 3 nanometrų skiriamąja geba. 1979 metais buvo sukurtas ir didelis elektroninis mikroskopas su 0,3 nanometrų skiriamąja geba.
Nors elektroninių mikroskopų skiriamoji geba gerokai pranašesnė už optinių mikroskopų, juose sunku stebėti gyvus organizmus, nes reikia dirbti vakuuminėmis sąlygomis, o elektronų pluošto apšvitinimas taip pat gali sukelti radiacinę žalą biologiniams mėginiams. Kiti klausimai, tokie kaip elektroninių ginklų ryškumo ir elektroninių lęšių kokybės gerinimas, taip pat reikalauja tolesnių tyrimų.
Lauko emisijos skenuojantis elektroninis mikroskopas
Pagrindinis panaudojimas: Šis instrumentas turi itin didelę skiriamąją gebą ir gali stebėti bei apdoroti antrinius elektronų vaizdus ir atspindėtus įvairių kieto mėginio paviršiaus morfologijų elektronų vaizdus. Įrengtas didelio našumo rentgeno energijos spektrometras, jis vienu metu gali atlikti kokybinę, pusiau kiekybinę ir kiekybinę mikrotaškių, linijų ir paviršiaus elementų analizę mėginio paviršiuje ir turi galimybę visapusiškai analizuoti morfologiją ir cheminius komponentus.
Prietaiso kategorija: 03040702/Instrumentai/Optiniai instrumentai/Elektroninės optikos ir jonų optikos instrumentai
Indikatoriaus informacija: Antrinio elektrono vaizdo skiriamoji geba: 1,5 nm Pagreičio įtampa: 0-30 kV Stiprinimo koeficientas: 100-500000 k. Nuolat reguliuojamas darbo atstumas: 5-35 mm Nuolat reguliuojamas pakreipimas: -5 laipsnis ~ 45 laipsnių rentgeno spektrometras: skiriamoji geba: 133eV Analizės diapazonas: BU
Priedo informacija: Aukso ir anglies dengimo instrumentas ISIS vaizdo apdorojimo sistemos atgalinės sklaidos zondas
Lauko emisijos skenuojanti elektroninė mikroskopija dėl savo didelės skiriamosios gebos yra patikima eksperimentinė priemonė nanomedžiagoms tirti. Be to, buvo gauti patenkinami tiek puslaidininkinių medžiagų, tiek izoliatorių vaizdai. Buvo atlikti superlaidžių plonų plėvelių, magnetinių medžiagų, plonasluoksnių medžiagų, išaugintų molekulinio pluošto epitaksijos būdu, ir puslaidininkių medžiagų morfologiniai stebėjimai. Atlikta įvairių medžiagų mikroregioninės sudėties analizė ir gauti patenkinami rezultatai